Erich Wiesmueller Analysegeraete/ Spektrometer
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RFA Röntgen- fluoreszenzanalyse

RFA Röntgen- fluoreszenzanalyse

RFA (Röntgenfluoreszenzanalyse)

TXRF (Totalreflexions- Röntgen- fluoreszenzanalyse) wird auf den gleichen Prinzipien der EDXRF gegründet mit jedoch einen signifikanten Unterschied. Im Gegensatz zu EDXRF, wobei der Primärstrahl auf die Probe in einem Winkel von 45 ° auftrifft, verwendet TXRF einen Glanzwinkel von einigen Milliradian.

Aufgrund dieser streifendem Einfall wird der Primärstrahl totalreflektiert. Durch Beleuchten der Probe mit einem Strahl, der vollständig reflektiert wird, die Absorption des Strahls in dem Trägersubstrat weitgehend vermieden und die damit verbundene Streu stark reduziert. Dies reduziert auch das Hintergrundrauschen wesentlich.

Ein weiterer Beitrag zur Reduzierung des Hintergrundrauschens wird durch Minimieren der Dicke der Probe erhalten. Ein kleiner Tropfen der Probe (5-100 & mgr; l der Substanz in einem geeigneten Lösungsmittel gelöst) auf einem Siliciumdioxid-Träger plaziert. Beim Verdampfen des Lösungsmittels einen dünnen Film, wenige Nanometer dick bleibt.

In der Praxis ergeben, der größere Teil des Streu normalerweise von der Probe und deren Matrix entfällt. Dies liegt daran, Matrixeffekt kann innerhalb von Minuten Rückstände oder dünne Schichten aus einer Probe nicht aufbauen. Neben seiner hohen Erkennungsleistung wird vereinfachte quantitative Analyse möglich gemacht durch einen internen Standard.

Die Technik ist im allgemeinen zerstörungsfrei und seine geeignet für Feststoffe, Flüssigkeiten, Pulver und Legierungen.

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